पीसीबी परीक्षण के लिए सीएनसी बैच प्रोग्रामिंग के साथ उच्च परिशुद्धता माइक्रोफोकस एक्स-रे निरीक्षण मशीन

S7200 एक्स-रे निरीक्षण प्रणाली इलेक्ट्रॉनिक्स, लिथियम बैटरी और औद्योगिक घटकों के गैर-विनाशकारी परीक्षण (एनडीटी) के लिए एक उच्च प्रदर्शन, बंद माइक्रोफोकस एक्स-रे समाधान है,एक Hamamatsu स्रोत और एक अल्ट्रा उच्च परिभाषा iRay फ्लैट पैनल डिटेक्टर से लैसइस प्रणाली में स्वचालित दोष का पता लगाने, सीएनसी बैच प्रोग्रामिंग और वैक्यूम/बबल विश्लेषण की सुविधा है, जो इसे बीजीए वैक्यूम विश्लेषण, पीसीबी सोल्डर निरीक्षण, और एयरोस्पेस घटक सत्यापन के लिए आदर्श बनाता है।

उच्च संकल्प माइक्रोफोकस इमेजिंग
यह एक Hamamatsu सील एक्स-रे ट्यूब और अल्ट्रा-फाइन दोष पहचान के लिए 5-15um फोकल स्पॉट से लैस है, जो BGA, IC और PCB विश्लेषण के लिए आदर्श है।

वास्तविक समय सीएनसी बैच निरीक्षण

छवि भंडारण और रिपोर्टिंग के साथ दोहराने योग्य, ऑपरेटर-मुक्त माप के लिए सीएनसी प्रोग्रामिंग के माध्यम से स्वचालित बैच परीक्षण का समर्थन करता है।

दोष का व्यापक विश्लेषण
उच्च सटीकता के साथ खोखलेपन, दरारें, सोल्डर पुल और माइक्रो-बुलबुले का पता लगाता है; बुलबुला दर गणना, दूरी, कोण, क्षेत्र और वक्रता माप का समर्थन करता है।

स्मार्ट छवि संवर्धन
सॉफ्टवेयर उपयोगकर्ता द्वारा परिभाषित प्रीसेट के साथ उत्पाद परीक्षण को दोहराने के लिए चमक, कंट्रास्ट और लाभ के ऑन-द-फ्लाई समायोजन को सक्षम करता है।

एकीकृत डेटा आउटपुट
निरीक्षण परिणाम सीएसवी और छवि प्रारूपों में निर्यात करने योग्य हैं, जिससे निर्बाध दस्तावेज, ट्रेसेबिलिटी और ऑफलाइन समीक्षा संभव होती है।

विकिरण सुरक्षा अनुपालन
इस्पात-लीड-इस्पात की तीन परतों वाली परिरक्षण से उत्सर्जन 0.5 Sv/h से कम हो जाता है, जो अंतरराष्ट्रीय सुरक्षा मानकों से अधिक है।

एक्स-रे निरीक्षण छवि / निरीक्षण मामले की छवि

विनिर्देश